イベント・セミナー

SEMICON Japan 2015

東京都

米国Verity Instruments社製品と安川情報システム社IoTソリューションを出展します。

平素は格別のご高配を賜り誠にありがとうございます。

この度、世界を代表するマイクロエレクトロニクス製造サプライチェーンの国際展示会である「SEMICON Japan 2015」に出展する運びとなりました。

米国Verity Instruments社の製品を展示し、半導体製造プロセスにおける最新の終点検出システムや膜厚・深さ測定システムの現状をご紹介いたします。

又、昨今注目を集めるIoT/M2Mソリューションにおいて豊富な実績を有する安川情報システム株式会社様の遠隔監視システムとの連携をご紹介いたします。

ご多忙の折とは存じますが、皆様のご来場を心よりお待ち申し上げております。

開催概要

開催日時: 2015年12月16日（水）10:00 ～ 2015年12月18日（金）17:00
申込期間
会場: 東京ビックサイト　東展示棟小間番号：3133

東京都江東区有明3-11-1

りんかい線　「国際展示場」駅　徒歩約7分
ゆりかもめ　「国際展示場正門」駅　徒歩約3分
定員
対象者
主催: SEMI (Semiconductor Equipment and Materials International)
共催
協賛
協力
後援
費用: 展示会の来場者登録は無料です。 (セミナー・レセプションの料金は申込受付開始時に各該当ページでご確認ください。)

詳細内容

【ＣＴＣブースのご案内】

■ Verity Instruments社Spectrometer及びSpectral Reflectometer
1) SD1024Gシリーズ終点検出システム
     (製品サイトはこちら)
2) SD1024X 終点検出システム(システムコントローラ内蔵)
     (製品サイトはこちら)
3) SP2100 膜厚測定・深さ測定システム
     (製品サイトはこちら)
4) 512NIR縁赤外光分光解析システム
     (製品サイトはこちら)

■ 安川情報システム社様ＩoＴ/M2M ソリューション　（協賛）
      (外部リンク：安川情報システム様のニュース一覧サイトへ )
      (外部リンク：安川情報システム様のソリューションサイトへ )

安川情報システム株式会社様が提供するIoTソリューションは、設置先のエンドデバイスからアプリケーションまで、遠隔監視システムをワンストップで提供されます。
クラウドにある汎用アプリケーションの活用により、お客様が短期間で安価にシステムの構築が可能となります。
今回は、IoTソリューションとお客様の距離を近づけ、お客様の「やりたい」ことの早期実現を支援して参ります。
<安川情報システム株式会社様ニュースリリースを引用>

SEMICON Japan 2015展示会において、両社でIoTを通じてお客様にどのような貢献ができるかご紹介致します。